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新300C四探針方塊電阻測試儀軟件功能(選配):軟件可記錄、保存、各點的測試數據;可供用戶對數據進行各種數據分3檔分選功能:超上限,合格,超下限,可對被測件進行HI/LOW判斷,可直接在LCD使用標志顯示;也可通過USB接口、RS232接口輸出更為詳細的分選結果。
電熱鼓風干燥箱帶有自動控溫裝置,能保持溫度在(120±5)℃。
當被測樣品的長度和寬度遠大于探針間距時,薄膜方阻可表示為:
試驗數據處理結果表示數值修約按GB/T 8170規定進行,取到小數點后一位。厚度單位為微米;方阻值單位為歐姆每方塊。最終結果表示為“在多少厚度下,方阻值為多少"的形式。
試劑或材料乙醇,體積分數≥95%,化學純?;馁|可耐受溫度≥120℃,基片表面粗糙度為0.5µm ~ 1.5µm。宜選用厚度2mm ~ 5mm的玻璃。
T/CGIA 001-2018 石墨烯材料術語和代號
試驗步驟:樣品片涂布在基片表面滴上乙醇,將基片表面清潔干凈,干燥后待用。將待測石墨烯導電油墨拌均勻,靜置約10min,無泡后取3g~5g樣品,均勻鋪展在基片一端,調節涂布器涂布厚度,將涂布器由鋪展油墨端勻速刮向另一端,使油墨均勻涂布的基片表面,即得待測片。
本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料之電導率。液晶顯示,無需人工計算,并帶有溫度補償功能,電導率單位自動選擇,BEST-300C 材料電導率測試儀自動測量并根據測試結果自動轉換量程,無需人工多次和重復設置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數據,自動生成圖表和報表。
新300C四探針方塊電阻測試儀GB/T 8170 數值修約規則與極限數值的表示和斷定
可配合多種探頭進行測試;也可配合多種測試臺進行測試。
膜層厚度測試將樣品置于平板上,使用千分表測量基片未涂布區域厚度,平移樣品片,使千分表測量頭置于涂布膜層上,選取14µm~ 16µm厚度的涂布膜層的位置,重復測量3次(最大值與最小值不超過1µm),取平均值作為點的膜層厚度,并記錄測試結果。
校正功能:可手動或自動選擇測試量程 全量程自動清零。 析。
便于查看的顯示/直觀的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示;操作易學,直觀使用;
即方阻與電阻率成正比,與厚度d成反比。方阻一般采用四探針來測量,測量裝置見圖1.四根探針等間距的排列成一條直線,彼此相距S為測量時針尖壓在薄膜樣品的表面,外面兩根探針通電流ι,里面兩根探針利用電位差計測量電壓V。
千分表測量范圍為0mm~1mm,精度為0.001mm。
JJG 508-2004 四探針電阻率測試儀檢定規程
樣品片干燥將待測片水平放置不小于10min,然后放放電熱鼓風干燥箱中,控制溫度在(120±5)℃,干燥30min,使涂布膜層*干燥、固化。取出待測片,置于試驗條件下,使待測片表面溫度降至室溫,得到樣品片。
適用范圍厚度可預設,自動修正樣品的電阻率,無需查表即可計算出電阻率。
雙電測測試模式,測量精度高、穩定性好.
具備溫度補償功能,修正被測材料溫漂帶來的測試結果偏差。
正反向電流源修正測量電阻誤差
四端測試法是目前較*之測試方法,主要針對高精度要求之產品測試;本儀器廣泛用于生產企業、高等院校、科研部門,是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
自動進行電流換向,并進行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時,可自動進行厚度修正。
石墨烯導電油墨方阻測定
標配:測試平臺一套、主機一套、電源線數據線一套。
試驗條件:溫度15℃~35℃;相對濕度 45%~75%;大氣壓力:86 kPa~106 kPa。
儀器設備:涂布器有效涂布寬度150mm,涂布厚度0µm ~ 3500µm,精度±2µm。
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時顯示電阻值、電阻率、方阻、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算,配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
四位半顯示讀數;八量程自動或手動測試;
將石墨烯導電油墨用可調試涂膜器涂布在基片上,經烘箱干燥后,膜層厚度14µm~16µm,在恒定溫度、濕度條件下,使用四探針測試儀,測試膜層的方阻,即為該厚度下的方阻值。
導電材料電阻測試儀BEST-300C
測量范圍寬: 電阻:10-4Ω-10-5Ω ;方阻:10-4Ω/□-105Ω/□;
四探針測試儀JJG 508-2004 I級。
測試模式:可連接電腦測試、也可不連接電腦單機測試。
平板400mm×400mm,JJG 117-2013級。
石墨烯導電油墨 graphene conductive inks:以石墨烯材料為主要導電介質,分散在連結料中制成的油墨,具有一定程度導電性質,可作為印刷電點或導電線路之用。
注:本文件只給出推薦樣品量,試驗人員可根據導電油墨固含量以及基片面積進行調整。 比較器判斷燈直接顯示,勿需查看屏幕,作業效率得以提高。
原理:對于具有一定導電性能的薄膜材料,其沿著平面方向的電荷傳輸性能一般用方阻來表示,對于 長為厚度為d的方形薄膜,其方阻可表示為:
方阻測試打開四探針測試儀,調至方阻測試功能檔位,輸入對應測試參數,測量樣品片在膜層厚度測試位置的方阻值。
本標準規定了石墨烯導電油墨的測定方法,碳納米管導電油墨以及其他碳材料導電油墨方阻的測定也可參照本文件執行。