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陶瓷介電常數介質損耗測試儀

發布時間:  2024-08-14

產品型號:  GDAT-A

產品報價:  

廠商性質:  生產廠家

所  在  地:  北京市海淀區上地科技園上地十街1號

產品特點:  陶瓷介電常數介質損耗測試用途 GDAT-A
可以用于科研機關,學校,例如一些科研院所,大專院校或計量測試部門的實驗室需要用介電常數測試儀對絕緣材料的介電常數進行測試;也適用于工廠或單位,如一些工廠對無機非金屬新材料性能的應用進行研究,另外在電力、電工、化工等領域,如:電廠、電業局實驗所、變壓器廠、電容器廠、絕緣材料廠、煉油廠等單位對固體及液體絕緣材料的介質損耗和相對介電常數ε的質量檢測等。

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產品概述

陶瓷介電常數介質損耗測試儀GDAT-A

陶瓷介電常數介質損耗測試儀GDAT-A技術指標 
1.Q值測量
a.Q值測量范圍:5~999。
b.Q值量程分檔:30、100、300、999、自動換檔。
c.標稱誤差
頻率范圍:25kHz~10MHz;
固有誤差:≤5%±滿度值的2%;工作誤差:≤7%±滿度值的2%;
頻率范圍:10MHz~50MHz;
固有誤差:≤7%±滿度值的2%;工作誤差:≤10%±滿度值的2%。
2.電感測量
a.測量范圍:0.1μH~1H。
b.分 檔:分七個量程。
0.1~1μH, 1~10μH, 10~100μH,
0.1~lmH, 1~10mH, 10~100mH, 100 mH~1H。
3.電容測量
a.測量范圍:1~460pF(460pF以上的電容測量見使用規則);
b.電容量調節范圍
主調電容器:40~500pF;
準 確 度:150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%;
微調電容量:-3pF~0~+3pF;
準 確 度:±0.2pF。
4.振蕩頻率
a.振蕩頻率范圍:25kHz~50MHz;
b.頻率分檔:
25~74kHz, 74~213kHz, 213-700kHz, 700kHz~1.95MHz,
1.95MHz~5.2MHz, 5.2MHz~17MHz, 17~50MHz。
c.頻率誤差:2×10±1個字。
5.Q合格指示預置功能,預置范圍:5~999。
6.儀器正常工作條件
a. 環境溫度:0℃~+40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
7.試樣尺寸
圓片形:厚度2+0.5mm,直徑為Φ30~40mm(ε<12時),Φ25~35mm(ε=12~30時),Φ15~20mm(ε>30時)
8.其他
a.消耗功率:約25W;
b.凈重:約7kg;
c. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。

陶瓷介電常數介質損耗測試儀GDAT-A一個高品質因數(Q)的電感器是測量系統*的輔助工具,關乎測試的靈敏度和精度,在系統中它與平板電容(BH916)構成了基于串聯諧振的測試回路。本系統推薦的電感器為LKI-1電感組共由9個高性能電感器組成,以適配不同的檢測頻率。

陶瓷介電常數介質損耗測試儀GDAT-A概述
介質損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點自動設定,諧振點自動搜索,Q值量程自動轉換,數值顯示等新技術,改進了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動穩幅等技術,使得新儀器在使用時更為方便,測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質損耗,高頻回路有效并聯及串聯電阻,傳輸線的特性阻抗等。

GDAT-A基于串聯諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統的二次儀表,其數碼化主調電容器的創新設計代表了行業的zui高成就,隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有*人機界面,采用LCD液晶屏顯示各測量因子:Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH200KHz-160MHz,頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε),把被測材料作為平板電容的介質,與輔助電感等構成串聯諧振因子引入Q表的測試回路,以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態下的特征。GDAT高頻Q表的全數字化界面和微機控制使讀數清晰穩定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ,無須關注量程和換算,*摒棄了傳統Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況,它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)測量的理想工具。

GDAT-A《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統的核心檢測部件,它由一個LCD數字顯示的微測量裝置和一對經精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品,微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化,測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新換代產品,精密的加工設計、精確的LCD數字讀出、一鍵式清零功能,克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。

GDAT-A數據采集和tanδ自動測量控件(裝入GDAT),實現了數據采集、數據分析和計算的微處理化,tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理,因而提高了數據的精確度和測量的同一性,是人工讀值和人工計算*的

         

 


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