介電常數(shù)介質損耗測試儀制作

高頻電容率和介質損耗因數(shù)測試系統(tǒng)構成

2.1.概述：高頻電容率和介質損耗因數(shù)測試系統(tǒng)由S916測試裝置（夾具）、GDAT型高頻Q表、數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)、及LKI-1型電感器組成，它依據(jù)國標GB/T 1409-2006、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。

2.2．《BH916介質損耗裝置》(測試夾具)是測試系統(tǒng)的核心檢測部件，它由一個LCD數(shù)字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過被測材料樣品放進平板電容器和不放進樣品時的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數(shù)。BH916介質損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產品，精密的加工設計、的LCD數(shù)字讀出、一鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數(shù)誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。

2.3．基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統(tǒng)的二次儀表，其數(shù)碼化主調電容器的創(chuàng)新設計代表了行業(yè)的zui高成就，隨之帶來了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有*人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數(shù)字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規(guī)定了用Q表法來測定電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)，把被測材料作為平板電容的介質，與輔助電感等構成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實地反映了介質在高頻工作狀態(tài)下的特征。

GDAT高頻Q表的全數(shù)字化界面和微機控制使讀數(shù)清晰穩(wěn)定、操作簡便。操作者能在任意點頻率或電容值的條件下檢測Q值甚至tanδ，無須關注量程和換算，*摒棄了傳統(tǒng)Q表依賴面板上印制的輔助表格操作的落后狀況，它無疑是電工材料高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(shù)(ε)測量的理想工具。

2.4．數(shù)據(jù)采集和tanδ自動測量控件（裝入GDAT)，實現(xiàn)了數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)分析和計算的微處理化，tanδ 測量結果的獲得無須繁瑣的人工處理，可提高數(shù)據(jù)的度和測量的同一性。

2.5．在系統(tǒng)中高品質因數(shù)（Q)的電感器與平板電容（BH916）構成了基于串聯(lián)諧振的測試回路。本技術協(xié)議的系統(tǒng)電感器為LKI-1電感組共由9個高性能電感器組成，以適配不同的檢測頻率。

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介電常數(shù)介質損耗測試儀  

介電常數(shù)測試儀 

介質損耗因數(shù)測試儀

 材料介電常數(shù)測試儀