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阻抗分析儀LCR電橋規范與校準

來源:技術文章    更新時間:2025-09-29    瀏覽:50次

阻抗分析儀LCR電橋規范與校準LCR電橋的標準操作流程,結合了儀器使用規范與校準要點:

1. ?開機與預熱?

啟動儀器后需預熱15-30分鐘,確保內部電路穩定,提升測量精度?。

2. ?測試夾具連接?

使用四端開爾文夾具(Kelvin clips)或專用測試座,確保引腳接觸良好,避免寄生電容或接觸電阻影響結果?。

對于SMD元件,需選擇匹配的探針或測試座?。

3. ?參數設置?

?測試模式?:根據元件類型選擇L(電感)、C(電容)、R(電阻)或Z(阻抗)模式?。

?測試頻率?:

電解電容:100Hz-1kHz

陶瓷電容:1kHz-100kHz

功率電感:10kHz-100kHz

RF元件:>100kHz?

?測試電平?:根據元件阻抗范圍選擇(如10mV-2Vrms),避免信號過強導致元件損壞?。

?等效電路模型?:高損耗元件(如電解電容)選并聯模型(Cp-Rp),低損耗元件選串聯模型(Ls-Rs)?。

4. ?校準操作?

?開路/短路校準?:

短路校準:短接測試夾具探針,按“SHORT"鍵消除接觸電阻和寄生電感?。

開路校準:斷開探針連接,按“OPEN"鍵消除分布電容干擾?。

?負載校準?(部分儀器支持):使用標準件(如50Ω負載)進一步校準?。

5. ?測量與數據記錄?

將被測元件接入夾具,按下“測試"鍵啟動測量?。

觀察結果穩定性,若波動較大需檢查連接或調整參數?。

通過USB/RS-232接口連接電腦,使用配套軟件保存數據?。

6. ?結果分析?

對比元件標稱值與測量值,判斷是否在公差范圍內?。

高頻元件需關注Q值(品質因數)和D值(損耗因數)?。

注意事項

校準頻率建議每月一次,或環境溫度變化較大時執行?。

測量小電阻(<1Ω)或高電阻(>1MΩ)時,需確保夾具清潔且校準充分?。

 

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測試夾具選型關鍵因素

?頻率范圍匹配?

根據被測元件的頻率特性選擇夾具,高頻元件(如100kHz以上)需選用同軸夾具或頂針式夾具(如TH26008A支持DC-120MHz),低頻測試(如5Hz-100kHz)可使用常規四端測試線?。

?元件封裝適配?

?SMD貼片元件?:推薦帶盒貼片測試線(如TH26009B,支持DC-15MHz)或頂針式夾具?。

?軸向/引腳元件?:需搭配四端帶卡夾具盒(如TH26005A/B)?。

?大面積元件?:可參考鑷子電橋夾具(如LCR-ST1)實現非接觸測量。

?精度與寄生參數控制?

四端對(Kelvin連接)夾具能有效消除線纜寄生阻抗,提升小阻值(如毫歐級)或小電容(如皮法級)的測量精度?。高頻測試時需注意接地設計,抑制電磁干擾?。

?環境與安全要求?

高溫/高濕環境需選擇耐候性夾具,如電介質測試夾具(TH26077)?。

高壓測試(如±42V偏置)需確保夾具絕緣等級達標?。

操作建議

?校準優化?:使用前需執行開路/短路校準,補償測試線損耗?。

?接觸檢查?:定期清潔夾具觸點,避免氧化導致接觸不良?。


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